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產(chǎn)品中心
巖芯掃描儀

型號(hào):

用途:快速、無(wú)損地對(duì)巖芯進(jìn)行元素分析和成分鑒定。

標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范:


巖芯掃描技術(shù)是現(xiàn)代地質(zhì)研究和資源勘探中不可或缺的重要手段。其中,XRF巖芯掃描儀作為一種先進(jìn)的分析設(shè)備,能夠快速、無(wú)損地對(duì)巖芯進(jìn)行元素分析和成分鑒定。它利用X射線熒光原理,精確測(cè)量巖芯中多種元素的含量和分布情況,生成高分辨率的元素分布圖譜。這種技術(shù)不僅提高了分析效率,還避免了傳統(tǒng)化學(xué)分析方法對(duì)樣品的破壞,為地質(zhì)學(xué)家提供了更為全面和直觀的研究數(shù)據(jù)。XRF巖芯掃描儀廣泛應(yīng)用于礦產(chǎn)勘探、石油地質(zhì)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域,是推動(dòng)地質(zhì)研究向精細(xì)化、高效化發(fā)展的重要工具。

巖芯掃描儀XRF Core Scanner是一款基于X射線熒光(XRF)技術(shù)的高精度分析設(shè)備,廣泛應(yīng)用于地質(zhì)研究、礦產(chǎn)勘探、海洋地質(zhì)以及環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域。該設(shè)備通過(guò)X射線照射樣品,激發(fā)樣品中的元素發(fā)射特征熒光X射線,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品中元素種類(lèi)和含量的快速、無(wú)損檢測(cè)。


設(shè)備原理
巖芯掃描儀采用100W銠陽(yáng)極X射線管激發(fā)樣品中的元素,并配備立方體硅漂移探測(cè)器,能夠在短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)高分辨率的光譜分析。其獨(dú)特的氦氣沖洗系統(tǒng)可顯著提高輕元素(如鎂、鈉等)的檢測(cè)精度,這是許多同類(lèi)設(shè)備所不具備的。


應(yīng)用領(lǐng)域
適用于多種樣品類(lèi)型,包括海洋沉積物、湖泊沉積物、巖石巖芯、珊瑚、貝殼等。其主要應(yīng)用包括:
地質(zhì)研究:分析沉積物的化學(xué)成分,重建古氣候和古環(huán)境。
礦產(chǎn)勘探:快速識(shí)別礦化帶,分析巖石中的元素分布。
海洋地質(zhì):研究海洋沉積物的地球化學(xué)特征。
環(huán)境科學(xué):評(píng)估沉積物中的污染物分布。


技術(shù)參數(shù)
檢測(cè)范圍:從鈉(Na)到鈾(U)的全元素分析。
分辨率:順巖芯方向可達(dá)0.1mm,可根據(jù)需求調(diào)節(jié)。
X射線源:100W銠陽(yáng)極X射線管,工作壽命長(zhǎng)達(dá)20000小時(shí)。
探測(cè)器:450μm厚的硅漂移探測(cè)器,能量分辨率可達(dá)133eV。
樣品尺寸:可處理直徑30-145mm、長(zhǎng)度1520mm的巖芯。

應(yīng)用案例
解決方案
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