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GDS彎曲元測試系統(tǒng)BES在湖北理工學(xué)院中標

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GDS彎曲元測試系統(tǒng)BES在湖北理工學(xué)院中標！
GDS彎曲元件測試系統(tǒng)技術(shù)參數(shù):
● 數(shù)據(jù)采集分辨率 (bits) = 16 bit (采用200ks/s 卡) 或 12 bit (采用1Ms/s 卡)
● 數(shù)據(jù)采集可以采用的增益范圍 = 16 (from x10 to x 4000)
● 為了減少重量采用鈦插入物 (這點對試樣帽來說很重要)
 
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